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          XCH12000X射线面密度测量仪

          设备用途:用于对锂电池正极涂布的面密度(单位面积的重量)进行非接触式在线检测。

           

          设备用途:用于对锂电池正极涂布的面密度(单位面积的重量)进行非接触式在线检测。
          测量原理:X射线属于电磁波,X射线穿透锂电池正极涂布极片时,发生强度衰减,其衰减符合指数规律,与涂布面密度相关,依据探测射线的衰减实现涂布面密度的测量。钴酸锂,锰酸锂,磷酸铁锂,三元等正极材料等效原子序数高,与基材铝箔相比,对于X射线的吸收系数比较大, 所以基材的正常波动对测量结果影响很小。
          设备特点:

          光斑?。浩涔獍呶锢沓叽?/span>6mm*6mm、6mm*9mm、6mm*12mm等多种规格,具有很高的空间分辨能力,极片抖动对测量无影响。

          实现优化测量:可根据正极涂布的具体规格,控制调节X光机的管电压、管电流等参数,构造优化的测量条件。

          独特的长寿命设计:X射线发生器采用上电软启动、双24ADC双独立闭环控制、油侵风冷散热等技术,?;ず诵牟考?/span>X光管10年不老化,探测器采用精密焊接密封工艺,保证核心电离室30年不漏气。

          高精度O型扫描架:使用高惯性矩钢结构厚壁管梁整体扫描O型框架,扫描基面采用数控中心一次定位加工,位置精度高,整体稳定性强,已取得专利。

          不断带标定装置:测量仪安装有标定装置,不必断带,十分方便用户对测量仪进行在线标定,已取得专利。

          豁免级防护:距离设备表面10cm处,剂量率不超过1μSv/h。

          闭环控制功能:具备与涂布机联机的功能,可实现涂布质量闭环控制。

          多架同位测量功能:具备多架测量仪联机测量功能,沿同一轨迹跟踪测量,得到净涂布面密度。

          技术指标:

          面密度测量精度():±0.1%;

          重复测量精度():±0.05%;

          测量范围:0~1000g/m2;

          X射线发生器阳极电压:5~20kV;

          系统响应时间(硬件):小于1ms,测量反应时间可编程控制;

          扫描速度:0~0.5m/s;

          扫描同步精度:0.04mm;

          光电编码器定位精度:0.02mm;

          平均无故障时间:X射线发生器50000h;X射线探测器80000h。

          辐射防护:距离设备表面10cm处,剂量率不超过1μSv/h,达到豁免等级,无需办理辐射安全许可证。

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